Predmet: Napredne tehnike karakterizacije elektronskih komponenti i materijala (17.DE202 )
Matične organizacione jedinice predmeta: Departman za energetiku, elektroniku i telekomunikacije
Studijski programi predmeta:
Stepen i vrsta studija | Naziv |
---|---|
Doktorske studije | Energetika, elektronika i telekomunikacije (Godina: 1, Letnji) |
Kategorija | Naučno-stručni |
Uža naučna oblast | Elektronika |
Multidisciplinarna | Ne |
ESPB | 10 |
Cilj:
Priprema studenata za istraživački rad u oblasti karakterizacije i testiranja elektronskih komponenti i materijala kao i eksperimentalni rad sa savremenim mernim instrumentima u oblasti mikroelektronike.
Ishod:
- sposobnost merenja na otvorenom čipu (vejferu) pre pakovanja u kućište uz pomoć
Sadržaj:
Karakterizacija i testiranje elektronskih komponenti (otpornika, kondenzatora, induktora, filtara, pojačavača). Merenje na vejferu uz pomoć
Metodologija izvođenja nastave:
Predavanja; Konsultacije. U okviru predavanja biće izvršena demonstracija rada sa savremenim mernim instrumentima uz akcenat na aktivno uključivanje studenata i njihov samostalni rad. Studijski istraživački rad.
Literatura:
Autori | Naziv | Godina | Izdavač | Jezik |
---|---|---|---|---|
2003 | Engleski | |||
2003 | Engleski |
Formiranje ocene:
Predmetna aktivnost | Predispitna | Obavezna | Broj poena |
---|---|---|---|
Prisustvo na predavanjima | Da | Da | 10.00 |
Seminarski rad | Da | Da | 30.00 |
Usmeni deo ispita | Ne | Da | 60.00 |
Izvođači nastave:
Radovanović Milan
viši naučni saradnik
Predavanja
prof. dr Stojanović Goran
Redovni profesor