Stranice predmeta

Karakterizacija i testiranje elektronskih komponenti (otpornika, kondenzatora, induktora, filtara, pojačavača). Merenje na vejferu uz pomoć Wafer Probe Station. Merenje s/z/y-parametara, merenje Q-faktora, merenje koeficijenta refleksije/transmisije. Praktičan rad sa Vector Network Analyzer-om sve do visokih učestanosti gde se javljaju specijalni efekti. Kalibracija prilikom merenja. Merenje parametara materijala (permitivnost, permeabilnost) korišćenjem Impedance Analyzer-a. Posmatranje unutrašnje strukture materijala uz pomoć različitih mikroskopskih tehnika. Tumačenje i prezentacija dobijenih rezultata. Pregled najnovijih rezultata u ovoj oblasti kroz naučne radove. Deo nastave na predmetu se odvija kroz samostalni studijski istraživački rad u oblasti karakterizacije elektronskih komponenti i materijala. Studijski istraživački rad obuhvata aktivno praćenje primarnih naučnih izvora, organizaciju i izvođenje eksperimenata i statističku obradu podataka, numeričke simulacije, pisanje rada iz uže naučno nastavne oblasti kojoj pripada tema doktorske disertacije.